GROW UP

ウェーハ外観検査装置LP

東京エレクトロン デバイス株式会社様

  • LPデザイン
  • ウェーハ外観検査装置
  • B to B

https://www.inrevium.com/lp/tokyoelectrondevice/index.html

半導体製造工程で用いられる、ウェーハ表面の傷、汚れ、異物などの目に見える欠陥を自動で検出する検査装置を紹介するLPです。どんな内容のLPなのか、どんな課題に適した製品なのか一目で伝わるようなデザインにしました。

英語ページも作成させていただきました。
https://us.teldevice.com/lp/tokyoelectrondevice/index-en.html

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